Fullscreen

PV_2_2020

Default description

praktyka

28

magazyn fotowoltaika 2/2020

źródła światła. Sygnał z  fotodetektora

pozwala uruchomić pomiar, gdy natężenie

światła osiągnie wymagany poziom, oraz

pozwala przeliczyć mierzone punkty cha-

rakterystyki I-V do stałych warunków, gdyż

nawet w  przedziale czasowym przezna-

czonym na pomiar niekoniecznie natęże-

nie światła musi charakteryzować się stałą

wartością. Na rys.  10  pokazano przykłady

pomiarów charakterystyk I–V z bieżącą kon-

trolą natężenia światła podczas pomiaru.

Procedura korekcji, oparta na zapisach

normy PN-EN 60891:2010, jest stosun-

kowa prosta i wygląda następująco:

Krok 1: wyliczana jest uśredniona war-

tość PDavr wszystkich odczytów sygnału

detektora PDi zmierzonych w  kolejnych

punktach krzywej I–V:

Krok 2: wyliczane są wartości korek-

cji ∆Ii dla kolejnych punktów krzywej I–V:

Krok 3: wyliczane są wartości skorygo-

wane prądu Iikor:

Procedura zapewnia korekcję krzy-

wej I–V zarówno ze względu na chwi-

lowe fluktuacje światła, jak i dłuższe cza-

sowe niestabilności występujące w czasie

pomiaru. Efekt działania procedury ilu-

struje rys. 10b, gdzie wygładzona krzywa

I–V została zmierzona przy wymuszonych,

bardzo intensywnych fluktuacjach światła.

Wpływ szybkości i kierunku

zmian polaryzacji na kształt

charakterystyki I–V

Niektóre elementy fotowoltaiczne cha-

rakteryzują się dużymi pojemnościami

wewnętrznymi, co powoduje, że przy

nagłej zmianie natężenia światła bądź zmia-

nie polaryzacji w trakcie pomiaru krzywej

I–V potrzebują dłuższego czasu, by osią-

gnąć stan ustalony. Do elementów takich

należą niektóre wysokosprawne ogniwa

krzemowe (np. HJT, IBC) oraz ogniwa

organiczne i perowskitowe. Ogniwa barw-

nikowe DSSC są tu absolutnym rekordzi-

stą, gdyż zachodzące w nich procesy zwią-

zane z  przemieszczaniem się ładunku są

bardzo powolne i mogą trwać nawet wiele

sekund. W trakcie pomiaru tego typu ele-

mentów na kształt otrzymanej krzywej I–V

mogą mieć wpływ zarówno szybkość, jak

i  kierunek zmian polaryzacji. Ilustruje to

rys. 11.

Taki stan rzeczy jest przyczyną kłopo-

tów przy pomiarach modułów wykona-

nych na bazie tego typu elementów przy

użyciu systemów z błyskowymi źródłami

światła (najpopularniejsze w  przemyśle),

w których z zasady pomiar musi być wyko-

nany bardzo szybko. Do problemu tego

wrócimy w kolejnej części niniejszej serii

artykułów.

W kolejnej części omówione zostaną

aspekty związane wyłącznie z pomiarami

modułów PV wraz z przeglądem dostęp-

nych na rynku systemów pomiarowych.

W  oddzielnej części omówione zostaną

aspekty dotyczące coraz popularniejszych

długoczasowych pomiarów modułów PV

w  warunkach naturalnych, pozwalające

na realną ocenę ich sprawności konwersji

energii w długich okresach czasu.

Autor jest członkiem Polskiego Towarzy-

stwa Fotowoltaicznego, a  także Przewodni-

czącym Komitetu Technicznego KT 54 (Che-

miczne Źródła Prądu) w  Polskim Komite-

cie Normalizacyjnym. KT 54  jest odpowie-

dzialny za wdrażanie na rynek krajowy norm

IEC z zakresu fotowoltaiki.

Przypisy

1 Obecnie na etapie opiniowania znajduje się wydanie IEC60904-1 Ed. 3.

2 Zwany też układem czterech sond lub układem sond Kelvina.

3 Cecha ta powoduje, że zasilacz bipolarny często określany jest jako wzmacniacz operacyjny mocy.

4 W przypadku ogniw o standardowych wymiarach 156 × 156 mm i geometrii elektrody 6BB cień o szerokości zaledwie ~1 mm wzdłuż każdej z szyn elektrod spowoduje zacienienie wynoszące ~1,5% całkowitej powierzchni, a więc również

podobny błąd w zmierzonej wartości ISC.

5 Na generację nośników prądu wykorzystywana jest jedynie ta część energii zaabsorbowanego fotonu, która odpowiada szerokości tzw. przerwy energetycznej absorbera. W przypadku krzemu jest to około 1,1 eV, co odpowiada długości fali

około 1,12 μm. Fotony o mniejszej długości fali (wyższej energii) będą więc część energii oddawały jako ciepło. Proces ten nazywany jest procesem termalizacji.

6 Wynika to z faktu, że wartość prądu oświetlonego ogniwa zmienia się proporcjonalnie do fluktuacji natężenia światła, podczas gdy na wartość napięcia wpływ fluktuacji natężenia światła jest bardzo niewielki.

Rys. 10. Przykłady charakterystyk I–V zmierzonych równolegle z sygnałem z fotodetektora rejestrującym natężenie światła a) dla symulatora z lam-

pą ksenonową o fluktuacjach światła < 0,5%; b) dla symulatora LED z wymuszonymi fluktuacjami światła przekraczającymi 5% (źródło: PV Test

Solutions)

Rys. 11. Wpływ szybkości i kierunku zmian polaryzacji na kształt

zmierzonej krzywej I–V dla elementów PV o dużej pojemności we-

wnętrznej

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60