PV_2_22
Welcome to interactive presentation, created with Publuu. Enjoy the reading!
25
magazyn fotowoltaika 2/2022
technologie
zawiódł z powodu pękania tylnej warstwy, ale ponad 10% testowa-
nych BOM-ów miało po teście wysoki poziom przebarwień.
Należy zauważyć, że PVEL przetestował około 25% dostępnych
na rynku podkładek, oraz podkreślić fakt stosowania w próbkach
testowych PQP materiałów wysokiej jakości.
Wyniki PVEL nie ujawniają problemów z gorszymi produk-
tami typu backsheet, które z pewnością są używane przez niektó-
rych producentów modułów, ale nie zostały poddane testom PQP
PVEL.
PVEL’s Hail Stress Sequence (HSS) – badanie „sekwencja
naprężeń wywołanych gradem”
Sekwencja naprężeń wywołanych gradem (HSS) odtwarza
energię uderzenia naturalnego gradu i symuluje warunki terenowe
w celu oceny trwałości modułu fotowoltaicznego. Wysoka wydaj-
ność w testowaniu gradobicia jest ważna w przypadku projek-
tów wdrażanych w regionach podatnych na gradobicie. Test został
dodany do Programu Kwalifikacji Produktów (PQP) w 2022 r.
Burze gradowe stają się coraz częstsze i mogą stanowić poważne
zagrożenie dla modułów fotowoltaicznych. HSS PVEL wykorzy-
stuje wyprodukowany w laboratorium grad (kule lodowe), którego
charakterystyka – rozmiar, masa, gęstość, prędkość i kąt padania –
jest dokładnie kontrolowana, aby uzyskać stałą energię uderzenia.
W rezultacie wyniki HSS umożliwiają nabywcom modułów foto-
woltaicznych łatwe porównanie odporności na grad, jaką posiadają
różne zestawienia komponentów modułów fotowoltaicznych.
W przypadku modułów, które są najbardziej podatne na uszko-
dzenia przez grad, podczas testów może dojść do pęknięcia szkła.
Inne moduły fotowoltaiczne mogą cierpieć tylko z powodu pęknięć
ogniw, które są widoczne jako ciemne obszary i przerywane linie na
obrazach EL, a także mogą powodować utratę mocy.
Dotychczasowe wyniki testów HSS PVEL wskazują, że BOM
typu szkło/szkło są odporniejsze na uszkodzenie komórek przez
uderzenia gradu niż BOM typu szkło/podkładka. W przeciwień-
stwie do tego, konstrukcje typu szkło/podkładka są mniej narażone
na pękanie szkła niż BOM typu szkło/szkło.
Najważniejsze wnioski wynikające z testów PQP
opublikowanych w karcie 2022
W 2022 r. mniej producentów doświadczyło niepowodzenia
w testowaniu niż w 2021 r. Jednak wskaźnik niepowodzeń na pozio-
mie BOM pozostał taki sam: 26% BOM doświadczyło co najmniej
jednej awarii.
Rekordowa liczba 12 producentów miała jeden lub więcej
typów modułów, które uzyskały bardzo dobre wyniki w każdym
teście niezawodności. Sześć z tych typów modułów okazało się rów-
nież najlepszymi pod względem wydajności energetycznej (PAN).
Tegoroczne wyniki Thermal Cycling (TC) były najlepsze
w historii badań PVEL. Aż 90% testowanych modułów uległo
degradacji o mniej niż 2%.
W testach ciepło–wilgoć (DH) wyniki były zróżnicowane: 50%
modułów osiągnęło najlepsze wyniki po pełnej sekwencji testowej.
Jeden typ modułu pogorszył swoje wyniki o 54%, co stanowi naj-
gorszy wynik DH w historii PVEL.
Niektórzy producenci nie doświadczyli żadnych awarii. Cho-
ciaż podobny udział zestawień materiałowych (BOM) miał co naj-
mniej jedną awarię w latach 2022 i 2021, tylko jeden producent
odpowiadał za 40% wszystkich awarii w karcie wyników 2022.
Wzrosły awarie spowodowane wilgotnym ciepłem, ale nie
w przypadku większości producentów. Więcej BOM-ów doświad-
czyło niepowodzeń w testach wilgotnego (DH) ciepła niż w jakim-
kolwiek innym teście, ale mniej niż 15% producentów doświad-
czyło awarii modułu związanej z tym testem.
Problemy ze skrzynką przyłączeniową są głównym powodem
awarii modułów PV. W ostatnich czterech kolejnych edycjach karty
wyników zaobserwowano ciągłe problemy z bezpieczeństwem
skrzynek przyłączeniowych. Pozostają one powszechnym źródłem
awarii. 30% uczestniczących producentów ma co najmniej jedną
awarię związaną ze skrzynką przyłączeniową.
Zaobserwowano dość znaczący trend polegający na tym, że
moduły szkło/szkło mają stosunkowo lepszą wydajność w testach
w wilgotnym cieple. W przeszłości enkapsulanty używane w modu-
łach typu szkło/szkło sprawiały wiele problemów, dochodziło do
rozwarstwiania się tego typu modułów , korozji i innych uszkodzeń
w czasie eksploatacji. W testowanych modułach przezwyciężono
wiele z tych problemów, stosując bardziej zaawansowane enkap-
sulanty. Moduły typu szkło/szkło radzą sobie wyjątkowo dobrze
w teście naprężeń mechanicznych.
Zdecydowana większość testowanych modułów mono PERC
wykorzystuje domieszkowanie galem. Zastąpienie boru spowodo-
wało rekordowo niską degradację LID indukowaną światłem.
Historycznie 2,5 do 3% utraty mocy w pierwszym roku była
przypisywana LID. Obecnie, w wielu modułach wynosi ona 0% lub
jest bardzo blisko zera. Nadal jednak odnotowywana jest 3-procen-
towa degradacja w pierwszym roku w niektórych typach modułów.
Wyniki tegorocznej karty niezawodności modułu PV Evolution
Labs okazały się najlepsze w dotychczasowej historii testowania.
Ujawnione słabe strony to rosnące wskaźniki awaryjności oraz pro-
blemy w testach naprężeń mechanicznych. Niemal połowa wszyst-
kich uczestniczących producentów odnotowała co najmniej jedną
awarię. Każdego roku karta wyników wyróżnia producentów, któ-
rzy produkują moduły fotowoltaiczne najwyższej jakości. 122 typy
modeli od 25 producentów zostały nazwane 2022 Top Performan-
ces ze względu na ich doskonałe wyniki w Programie Kwalifikacji
Produktów PQP PVEL.
Opracowanie: Mirosław Grabania
Źródło: Kiwa, PVEL, PVTECH
O PV Evolution Labs
PVEL jest wiodącym niezależnym laboratorium dla przemy-
słu fotowoltaicznego i magazynowania energii oraz człon-
kiem Grupy Kiwa. Jako pionier testów bankowalności, PVEL
zgromadził ponad dekadę zmierzonych danych dotyczących
niezawodności i wydajności dla urządzeń fotowoltaicznych
i magazynujących. Dziś PVEL zapewnia deweloperom,
inwestorom i właścicielom aktywów zestaw usług tech-
nicznych w celu ograniczenia ryzyka, optymalizacji finanso-
wania i poprawy wydajności systemu w całym cyklu życia
projektu. Flagowe programy kwalifikacji produktów PVEL
łączą producentów z globalną siecią ponad 400 partnerów
niższego szczebla reprezentujących ponad 30 GW rocznej
siły nabywczej.
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60