pv_4_2020_dodatek_normy
28
magazyn fotowoltaika / dodatek normy
Norma określająca procedury badania służące do oceny zjawiska PID w procesie powstawania delaminacji(1) (PID-d) modułów PV z krzemu
krystalicznego, w których jedną (górną) lub obie powierzchnie stanowi szyba. Niniejszy dokument określa sposób oceny rozwarstwienia materiałów
polimerowych hermetyzujących moduł PV, które wynika z przepływu prądu pomiędzy masą a obwodem elektrycznym modułu. Czynniki
wywołujące proces delaminacji, których uruchomieniu służy opisane badanie, obejmują – aktywowaną zwiększonym napięciem i zmniejszoną
adhezję związaną z narażeniem na wilgoć i ciepło – akumulację jonów sodu przy powierzchniach granicznych ogniwo-laminat, laminat-szyba
oraz uwalnianie się gazów w obwodzie ogniwa, przy metalizacji i innych komponentów znajdujących się wewnątrz modułu PV. Zakres normy nie
obejmuje zmian mocy krzemowych modułów PV związany z zastosowanymi czynnikami narażenia (zgodnie z normą IEC TS 62804-1).
1 Delaminacja jest procesem, w którym materiał polimerowy użyty do hermetyzacji modułów (np. EVA) traci przyczepność (pogorszenie adhezji)
bądź do ogniwa krzemowego, bądź do szyby, przez co tworzą się puste obszary mające wpływ nie tylko na wizualną stronę modułu, ale mogące
przyczynić się także do jego rozhermetyzowania i znaczne pogorszenie jego parametrów izolacyjności mających znaczenie dla bezpieczeństwa.
IEC TS 62804-2 Ed. 1.0:2017 Photovoltaic (PV) modules – Test methods for
the detection of potential-induced degradation – Part 2: Thin-film
IEC TS 62804-1 Ed. 1:2017 Moduły fotowoltaiczne (PV) – Metody
badań mająca na celu wykrycie degradacji wymuszanej napięciem
– Część 2: Cienkowarstwowe
Propozycja nowej normy (specyfikacja techniczna) TC 82/IEC przedłożona w celu określenia procedury dla oceny wpływu degradacji PID na
cienkowarstwowe moduły PV. Celem jest odpowiedź na pytanie, ilu latom rzeczywistej eksploatacji modułu na wolnym powietrzu odpowiada
proponowane w procedurze badanie efektu PID według testu IEC, przy założeniu, że wartość przetransferowanego ładunku elektrycznego jest
równoważna skali narażenia PID.
IEC
TS
62915
Ed.
1:2018
Photovoltaic
(PV)
modules
–
Type
approval,
design
and
safety
qualification
–
Retesting
(stability date 2020)
IEC TS 62915 Moduły fotowoltaiczne (PV) – powtórzenie badań
w celu aprobaty typu, kwalifikacji konstrukcji i bezpieczeństwa
Specyfikacja techniczna określająca jednolite podejście do utrzymania aprobaty typu i konstrukcji, a także kwalifikacji bezpieczeństwa modułów
PV do zastosowań naziemnych, które zostały lub zostaną poddane modyfikacji w stosunku do ich pierwotnie ocenionego projektu. Zmiany
w doborze materiałów, komponentach i procesie produkcyjnym mogą mieć wpływ na parametry elektryczne, niezawodność i bezpieczeństwo
zmodyfikowanego wyrobu. Omawiany dokument wymienia typowe modyfikacje i wynikające z nich wymagania dotyczące ponownych badań na
podstawie różnych norm. Dokument jest ściśle związany z normami serii IEC 61215 oraz IEC 61730.
Dokument może być pomocny przy podejmowaniu w niektórych sytuacjach decyzji o charakterze inżynierskim. Sekwencje badań są tak dobierane,
by pomóc w zidentyfikowaniu niekorzystnych zmian w zmodyfikowanym produkcie. Produkty, które pomyślnie przejdą określone sekwencje badań,
uznaje się za zgodne z normą, według której zostały one pierwotnie ocenione w ramach procesu pełnej kwalifikacji. Liczba próbek (modułów),
które mają być włączone do programu powtórnych badań, oraz kryteria określające ich pozytywny/negatywny wynik wymienione są w normach
powołanych IEC 61215 i IEC 61730.
IEC TS 62916 Ed. 1.0:2017 Photovoltaic (PV) modules – Bypass diode
electrostatic discharge susceptibility testing (stability date 2026)
IEC TS 62916 Ed. 1.0:2017 Moduły fotowoltaiczne (PV) – Badanie
podatności diody bocznikującej na wyładowania elektrostatyczne
Norma IEC TS 62916 opisuje badanie odporności na wyładowania elektrostatyczne (ESD, ang. Electrostatic Discharge) elementu dyskretnego,
jakim jest dioda bocznikująca (ang. by-pass), oraz metodę analizy danych. Opisana metoda badania polega na poddaniu diody bocznikującej
narastającemu narażeniu ESD oraz na wykonaniu analizy poprzez ekstrapolację powstałych uszkodzeń za pomocą dwuparametrowej funkcji
rozkładu Weibulla. Przedmiotem omawianego dokumentu jest ustalenie wspólnej i powtarzalnej metody badania w celu określenia tolerancji diody
bocznikującej na przepięcie zgodne ze zdarzeniem ESD podczas procesu produkcji, montażu, transportu lub instalacji modułów PV.
IEC 62979 Ed. 1.0:2017 Photovoltaic modules – Bypass diode – Thermal
runaway test
PN-EN 62979:2018 Moduły fotowoltaiczne (PV) – Dioda
bocznikująca – Test na przebicie cieplne
Norma określa metodę pozwalającą oszacować, czy dioda bocznikująca zamontowana w module fotowoltaicznym jest podatna na przebicie
cieplne lub czy zapewnione jest odpowiednie jej chłodzenie gwarantujące bezpieczne przejście od polaryzacji w kierunku przewodzenia do
polaryzacji w kierunku zaporowym bez nadmiernego nagrzewania się.
Metoda jest szczególnie przydatna w przypadku testowania diod z barierą Schottkyego, które charakteryzują się szybkim wzrostem prądu upływu
ze wzrostem napięcia zaporowego w warunkach podwyższonej temperatury, co czyni je bardziej podatnymi na przebicie cieplne.
Próbki testowe z diodami ze złączem P/N użytymi jako diody bocznikujące nie wymagają opisanych w normie badań na przebicie cieplne, gdyż
odporność diod ze złączem P/N na dłuższe przebywanie w stanie polaryzacji zaporowej jest wystarczająco wysoka.
IEC 62790 Ed. 2.0:2020 PRV Junction boxes for photovoltaic modules –
Safety requirements and tests (stability date 2023)
PN-EN 62790 Ed. 1:2015-05 Puszki przyłączeniowe do modułów
fotowoltaicznych – Wymagania bezpieczeństwa i badania
Norma określa wymagania konstrukcyjne i bezpieczeństwa oraz metody badań dla puszek przyłączeniowych do 1500 V prądu stałego do stosowania
w modułach PV klasy II normy stosownie do IEC 61140:2016 (PN-EN 61140:2001 dla wersji PN-EN 62790:2015). Norma ta ma zastosowanie również
do obudów montowanych na modułach PV, zawierających układy elektroniczne do przetwarzania, sterowania, monitorowania lub podobnych
funkcji. Dodatkowe wymagania uwzględniające odpowiednie działania powinny być stosowane z uwzględnieniem warunków środowiskowych
instalacji modułów PV. Omawiana norma nie ma zastosowania do układów elektronicznych tych urządzeń, dla których zastosowanie mają inne
normy IEC.
Najnowsze, drugie wydanie normy IEC 62790:2020 RLV zawiera wersję Redline (PRV) dostępną on-line, w której zaznaczone zostały wszystkie
zmiany w stosunku do poprzedniego wydania dokumentu. Wydanie drugie obowiązuje w miejsce wydania IEC z 2014 roku, które tym samym
zostało anulowane.
EN 50548:2014 + AMD 1:2013 + AMD 2:2014 Junction boxes for
photovoltaic modules
EN 50548:2011/ A1:2013/ A2:2014 Puszki połączeniowe do
modułów fotowoltaicznych
Norma europejska EN 50548 dotyczy puszek przyłączeniowych do 1500 V DC przeznaczonych do montowania na modułach PV zgodnie z klasą
aplikacyjną A normy PN-EN 61730-1.
Uwaga: Odnośnie do puszek przyłączeniowych zgodnych z klasą aplikacyjną B i C normy PN-EN 61730-1 w systemach fotowoltaicznych norma ta
może być stosowana jako wytyczne.
IEC 61701 Ed. 3.0:2020 Photovoltaic (PV) modules – Salt mist corrosion
testing (stability date 2025)
PN-EN 61701:2020 Moduły fotowoltaiczne (PV) – Badanie
odporności na korozję w atmosferze mgły solnej
Norma opisuje sekwencje badań przydatnych do określenia odporności różnych modułów PV na korozję wywołaną mgłą solną zawierającą Cl- (NaCl,
MgCl2, itp.). Wszystkie testy ujęte w sekwencjach, z wyjątkiem testu funkcjonalności diod bocznikujących, są w pełni opisane w normach: PN-EN
61215, PN-EN 61646, PN-EN 62108, PN-EN 61730-2 oraz PN-EN 60068-2-52. Norma ta może być stosowana zarówno w przypadku modułów PV
płaskich, jak i modułów i podzespołów w systemach z koncentratorami światła. Test mgły solnej bazuje na normie IEC 60068-2-52 szeroko stosowanej
dla komponentów elektronicznych. Norma zawiera sekwencję testowania cyklicznego, w każdym cyklu łączącą ekspozycję na mgłę solną, po
której następuje kumulowanie wilgoci w warunkach kontrolowanej temperatury i wilgotności względnej. Ta sekwencja testowa odpowiednio
odzwierciedla procesy korozyjne zachodzące w modułach PV narażonych na trwałe lub tymczasowe przebywanie w atmosferze korozyjnej.
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84